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E+H物位計FMB52-AA21JD1HGB15AGJB3A德國原廠
更新時間:2021-04-12   點擊次數:1092次

E+H物位計FMB52-AA21JD1HGB15AGJB3A德國原廠

 物位計、液位計與料位三者的區別物位計、液位計與料位三者的區別 物位測量通常 指對工業生產過程中封閉式或敞開容器中物料(固體或液位)的高度進行檢測;如果是對 物料高度進行連續的檢測,稱為連續測量。如果只對物料高度是否到達某一位置進行檢 測稱為限位測量。 料位計是指對容器中固體物料高度的

雷達物位計是以高頻微波脈沖通過天線系統發射并接收,雷達波以光速運行,運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號,也是一種特殊的時間延伸方法可以確保穩定和的測量。雷達物位計具備優勢,當出現工況比較復雜的情況,會存在虛假回波,用的微處理技術和調試軟件也可以準確的識別出物位的回波。

一、磁翻板液位計
液位計根據浮力原理和磁性耦合作用研制而成。當被測容器中的液位升降時,液位計本體管中的磁性浮子也隨之升降,浮子內的磁鋼通過磁耦合傳遞到磁翻柱指示器,驅動紅、白翻柱翻轉,當液位上升時翻柱由白色轉變為紅色,當液位下降時 翻柱由紅色轉變為白色,指示器的紅白交界處為容器內部液位的實 際高度,從而實現液位清晰的指示。
結構用工作原理 :
側裝式磁翻板液位計二引管連接法蘭(5)分別與容器引管法蘭連接,主導管(2)內有一磁性浮子(6),該浮子根據被測介質比重設計,當液體介質進入主導管內時,磁性浮子可隨容器內介質變化上下浮動。顯示部分為一列帶磁性的紅白二色小球(7),裝于支架上,可上下翻動,外有有機玻璃板保護,由抱箍(3)固定在主導管外,并緊貼主導管。當液體上升時,浮子上移,小球翻成紅色,反之,小球變成白色,紅白球分界處即為介質液位,同時在面板(8)標尺上讀得液位高度。主導管底部有法蘭(9)及排污閥(10)供安裝浮子、調試及清洗用。頂部裝有絲堵(11),供清洗等用途用。

二、雷達液位計
雷達液位計發射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和的測量。
即使工況比較復雜的情況下,存在虛假回波,用的微處理技術和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波。
輸入
天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路,微處理器對此信號進行處理,識別出微脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成,精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比:
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知,則物位L為:
L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度E(=零點),滿罐高度F(=滿量程)及一些應用參數來設定,應用參數將自動使儀表適應測量環境。對應于4-20mA輸出。
應用介質:
l SKD系列智能雷達物位計適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量,適用于溫度、壓力變化大;有惰性氣體及揮發存在的場合。
l 采用微波脈沖的測量方法,并可在工業頻率波段范圍內正常工作。波束能量較低,可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內,對人體及環境均無傷害。
安裝說明


l 推薦距離(1)墻至安裝短管的外壁:
 離罐壁為罐直徑1/6處,最小距離為200mm。l
 不能安裝在入料口的上方(4)。l
l 不能安裝在中心位置(3),如果安裝在中央,會產生多重虛假回波,干擾回波會導致信號丟失。
l 如果不能保持儀表與罐壁的距離,罐壁上的介質會黏附造成虛假回波,在調試儀表的時候應該進行虛假回波存儲。
測量條件
注意事項
l 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算,但在特殊情況下,若罐低為凹型或錐形,當物位低于此點時無法進行測量。
l 若介質為低介電常數當其處于低液位時,罐低可見,此時為保證測量精度,建議將零點定在低高度為C 的位置。
l 理論上測量達到天線的位置是可能的,但是考慮到腐蝕及粘附的影響,測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。
l 對于過溢保護,可定義一段安全距離附加在盲區上。
 最小測量范圍與天線有關。l
l 隨濃度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以將其反射,但在一定的條件下是可以進行測量的。


三、磁致伸縮液位計
液位變送器由三個主要部分組成。外管部分是耐腐蝕,耐工業惡劣環境的產品材料。變送器的核心部分是最內核的波導管,它是由一定的磁致伸縮物質構成。變送器的電子部分產生一個低電流的詢問脈沖,該脈沖同時產生一個磁場,并沿波導管向下傳播。當該磁場和波導管上的浮子內的永磁體所產生的磁場相交時,就會產生一個應變脈沖,或叫波導扭曲。應變脈沖沿波導管返回并被電子單元所接收,通過測量詢問脈沖和返回脈沖之間的時間間隔,可獲得高精度、高重復性的液位值。


四、超聲波液位計

超聲波液位計的工作原理是由換能器(探頭)發出高頻超聲波脈沖遇到被測介質有關。表面被反射回來,部分反射回波被同一換能器接收,轉換成電信號。超聲波脈沖以聲波速度傳播,從發射到接收到超聲波脈沖所需時間間隔與換能器到被測介質表面的距離成正比。此距離值S與聲速C和傳輸時間T之間的關系可以用公式表示:S=C×T/2

由于發射的超聲波脈沖有一定的寬度,使得距離換能器較近的小段區域內的反射波與發射波重迭,無法識別,不能測量其距離值。這個區域稱為測量盲區。盲區的大小與超聲波物位計的型號有關。

 
五、電容液位計
電容式液位計是采用測量電容的變化來測量液面的高低的。它是一根金屬棒插入盛液容器內,金屬棒作為電容的一個極,容器壁作為電容的另一極。
兩電極間的介質即為液體及其上面的氣體。由于液體的介電常數ε1和液面上的介電常數ε2不同,比如:ε1>ε2,則當液位升高時,兩電極間總的介電常數值隨之加大因而電容量增大。反之當液位下降,ε值減小,電容量也減小。
所以,可通過兩電極間的電容量的變化來測量液位的高低。電容液位計的靈敏度主要取決于兩種介電常數的差值,而且,只有ε1和ε2的恒定才能保證液位測量準確,因被測介質具有導電性,所以金屬棒電極都有絕緣層覆蓋。電容液位計體積小,容易實現遠傳和調節,適用于具有腐蝕性和高壓的介質的液位測量。


六、導納液位計
射頻導納式物位控制器是利用高頻技術,由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上,探頭作為敏感元件,將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路于這些變化包括電容量和電導量的變化,因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號,采用相位檢測技術將這種變化檢測出來,進行處理后繼電器的輸出。它是在原電容測量的基礎上改進為射頻導納測量技術,代表了當今物位測量的新水平。常用有標準型、重型探頭型、耐高溫用陶瓷探頭型、堵料開關、堵煤開關等等。


七、射線液位計
輻射法:放射性同位素在衰變過程中會輻射射線,常見的射線有α、β、γ射線。其中,γ射線的穿透力強,射程遠,故在核輻射液位測量中廣泛采用。實驗證明,穿過物質前后γ射線強度會發生變化,并滿足以下關系[5]:
上式中:J0-穿過物質前的強度;J-穿透物質后的強度;μ-物質對γ射線的衰減特性;d-物質的厚度。核輻射式液位儀由放射源、探測器及處理電路組成。放射源大都采用鈷-60或銫-137。探測器有電離室、記數管、閃爍計數器等幾種,其作用是探測射線穿透物質后的強度。核輻射液位儀采用非接觸式安裝,如圖6—3所示。圖6—3a采用點式放射源、探測器,測量范圍較小;圖6—3b采用點式放射源、線狀探測器,測量范圍較大;圖6—3c采用線狀放射源、探測器,測量范圍最大。除γ射線外,中子射線也可用來測量液位。中子射線的穿透能力*,比γ射線強10倍以上,可穿透壁厚達9英寸的鋼質容器[10]。射線液位儀安裝方便,測量精度能滿足大罐測量的需要,有一定的應用場合。


八、射頻導納工作原理
射頻導納物位控制技術是一種從電容式物位控制技術發展起來的,防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控制技術,“射頻導納”中“導納”的含義為電學中阻抗的倒數,它由阻性成分、容性成分、感性成分綜合而成,而“射頻”即高頻,所以射頻導納技術可以理解為用高頻測量導納。高頻正弦振蕩器輸出一個穩定的測量信號源,利用電橋原理,以測量安裝在待測容器中的傳感器上的導納,在直接作用模式下,儀表的輸出隨物位的升高而增加。
射頻導納技術與傳統電容技術的區別在于測量參量的多樣性、驅動三端屏蔽技術和增加的兩個重要的電路,這些是根據在實踐中的寶貴經驗改進而成的。上述技術不但解決了連接電纜屏蔽和溫漂問題,也解決了垂直安裝的傳感器根部掛料問題。所增加的兩個電路是高精度振蕩器驅動器和交流鑒相采樣器。
對一個強導電性物料的容器,由于物料是導電的,接地點可以被認為在探頭絕緣層的表面,對變送器探頭來說僅表現為一個純電容,隨著容器排料,探桿上產生掛料,而掛料是具有阻抗的。這樣以前的純電容現在變成了由電容和電阻組成的復阻抗,從而引起兩個問題。
射頻導納技術由于引入了除電容以外的測量參量,尤其是電阻參量,使得儀表測量信號信噪比上升,大幅度地提高了儀表的分辨力、準確性和可靠性;測量參量的多樣性也有力地拓展了儀表的可靠應用領域。
個問題是物料本身對探頭相當于一個電容,它不消耗變送器的能量,(純電容不耗能),但掛料對探頭等效電路中含有電阻,則掛料的阻抗會消耗能量,從而將振蕩器電壓拉下來,導致橋路輸出改變,產生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個驅動器,使消耗的能量得到補充,因而會穩定加在探頭的振蕩電壓。
第二個問題是對于導電物料,探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個物料及掛料區,使有效測量電容擴展到掛料的頂端,這樣便產生掛料誤差,且導電性越強誤差越大。但任何物料都不*導電的。從電學角度來看,掛料層相當于一個電阻,傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據數學理論,如果掛料足夠長,則掛料的電容和電阻部分的阻抗和容抗數值相等,因此用交流鑒相采樣器可以分別測量電容和電阻。測得的總電容相當于C物位+C掛料,再減去與C掛料相等的電阻R,就可以獲得物位真實值,從而排除掛料的影
響。即
C測量=C物位+C掛料
C物位=C測量-C掛料=C測量-R
這些多參量的測量,是測量的基礎,交流鑒相采樣器是實現的手段。由于使用了上述三項技術,使得射頻導納技術在現場應用中展現出非凡的生命力。

 E+H物位計FMB52-AA21JD1HGB15AGJB3A德國原廠

FMB52-AA21JA1HGB15GGJB2A+AK
FMB52-BA21JD1HGD15CEJB3A+AKF1
FMB52-CD21JA1HGK35CFJB2AAA
FMB52-8281/0
FMB52-AA21JA1HGD15CFJB2J+AKF1
FMB52-AA21RC1HGD15GGJB2U+AK
FMB52-AA21RA1FGD15GGJB3A+AK
FMB52-AA21JA1HGD15GGJB2A+AKMB
FMB52-3CW0/0
FMB52-AA21JA1HGA15CEJB3J
FMB52-BA22ID1HGC15RGJB2A
FMB52-AA21JA1HGD15GGJB2
FMB52-APT1/0
FMB52-9460/0
FMB52-AA22IA1FGA35GGJB2U+HC
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E+H CPS12-OPA2ESA
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E+H COM253-DX0110
E+H CLM223-IS0005
E+H CPM253-PR0110
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E+H COS41-2F
E+H CLM223-IS0005

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E+H CUS41-W2
E+H CUM253-TU0005
E+H CPS71-2BC2ESA
E+H CLM223-IS0005
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E+H CPS11-2AS2ESA
E+H COM253-DX0005
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靜壓液位計、密度控制器、一體化伽瑪測量儀表
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